產(chǎn)品時(shí)間:2024-10-16
主要性能指標(biāo) ※波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng): uv-340探頭:λ:(315~370)nm;λp=340nm ※輻照度測(cè)量范圍: (0.1~199.9×103)μw/cm2 ※紫外帶外區(qū)雜光: uv340:小于0.05% ※余弦特性: 符合國(guó)家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn) ※示值相對(duì)誤差:
紫外輻照計(jì) 紫外線強(qiáng)度檢測(cè)儀 型號(hào):HD-uv-340型
該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
u主要性能指標(biāo)
※波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng):
uv-340探頭:λ:(315~370)nm;λp=340nm
※輻照度測(cè)量范圍:
(0.1~199.9×103)μw/cm2
※紫外帶外區(qū)雜光:
uv340:小于0.05%
※余弦特性:
符合國(guó)家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn)
※示值相對(duì)誤差:
±10%
※響應(yīng)時(shí)間:
1秒
※使用環(huán)境:
溫度(0~40)℃;濕度<85%rh
※尺寸和重量:
180mm×80mm×36mm;0.2kg
※電源:
9v積層電池(6f22型)一只
紫外輻照計(jì) 紫外線強(qiáng)度檢測(cè)儀 型號(hào):HD-uv-340型
該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
u主要性能指標(biāo)
※波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng):
uv-340探頭:λ:(315~370)nm;λp=340nm
※輻照度測(cè)量范圍:
(0.1~199.9×103)μw/cm2
※紫外帶外區(qū)雜光:
uv340:小于0.05%
※余弦特性:
符合國(guó)家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn)
※示值相對(duì)誤差:
±10%
※響應(yīng)時(shí)間:
1秒
※使用環(huán)境:
溫度(0~40)℃;濕度<85%rh
※尺寸和重量:
180mm×80mm×36mm;0.2kg
※電源:
9v積層電池(6f22型)一只